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日本电子JSM-7500F 冷场发射扫描电子显微镜
保护 JSM-7500F 冷场发射扫描电子显微镜JSM-7500F场发射扫描电镜配备了场发射电子枪和半浸没式(semi-in-lens)物镜,配合Gentle Beam (GB模式即柔和光束
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日本电子JSM-6701F冷场发射扫描电子显微镜
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JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
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日本电子JSM 6390扫描电子显微镜
1. 强大的电子光学系统,简单操作 zei新设计的超级圆锥型物镜,保证3nm的分辨率。很容易得到高质量照片。 广域扫描线圈可以得到zei低5倍的放大倍数从而提高观察样品的效率。 优秀的电子光学
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日立高新S-4800冷场发射扫描电子显微镜
二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV,减速模式);1.0nm (15kV) 电子光学: 电子枪: 冷场发射电子源 加速电压: 0.5~30kV(0.1KV/步,可变) 放大倍率
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日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜
同时,将束流提高到300nA,可以大大增加能谱,WDS,EBSD和阴极发光等附件的分析效率和空间分辨率 JSM-7200F 热场发射扫描电子显微镜JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子
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日本电子JSM-IT300HR 扫描电子显微镜
高灵敏度、高空间分辨率。这款新锐的扫描电镜不仅提供卓越的性能,而且还保持了InTouchScope系列备受好评的易用性。 JSM-IT300HR是JEOL InTouchScope系列的
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日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜
1pA—1uA 放大倍数:5 ---- 300,000倍 通用型扫描电子显微镜JSM-6510系列,采用了热电子枪,内有标准菜单能满足用户的多样化需求,丰富的选配件如Cryo系统等能进一步扩大应用
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JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜
电压下的分辨率◇ r-过滤器◇ LABE检测器(选配件)利用LABE 检测器获取低角度背散射电子像◇ 扩展性能谱仪(EDS)波谱仪(WDS)阴极荧光系统(CL) JSM-7610F的光学系统经过改进
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JSM-7610F 热场发射扫描电子显微镜
系统采用High Power Optics(高性能电子光学系统),可以进行高分辨率、高精度的快速元素分析 JSM-7610F 热场发射扫描电子显微镜JSM-7610F是一款半浸没式
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